欢乐颂,君子以泽,斗破苍穹续集

模塊化 T-SCAN 系統(tǒng)助力實(shí)現(xiàn)快速檢驗(yàn)：系統(tǒng)即刻捕捉零件三維數(shù)據(jù)，無需任何準(zhǔn)備工作。手持式 T-SCAN 激光掃描儀與光學(xué)跟蹤系統(tǒng) T-TRACK ，T-POINT 接觸式探針完美結(jié)合，形成一套直觀且高精度的三維計(jì)量解決方案。搭配 GOM Inspect Suite 軟件套裝，突破了其在三坐標(biāo)測量技術(shù)領(lǐng)域的新高度。

模塊一體化概念

模塊一體化概念和完整的激光掃描解決方案為各種應(yīng)用和表面檢驗(yàn)提供極高的靈活性。

及時偏差檢驗(yàn)

省時省錢：該移動式測量解決方案可作用于車間現(xiàn)場，帶來直觀的零件分析，測量以及數(shù)模建立。

用戶引導(dǎo)性的軟件工作流程

T-SCAN 系統(tǒng)現(xiàn)與 GOM Inspect Suite 軟件套裝結(jié)合。用戶可在視察器上實(shí)時查看掃描進(jìn)度，并在掃描，探針探測和檢驗(yàn)過程中獲得軟件操作提示。

移動式測量系統(tǒng)兩種適配選擇

手持式激光掃描儀可同時與接觸式探針，以及另外兩款光學(xué)跟蹤系統(tǒng)搭配使用。蔡司 T-TRACK 20 作為一套技術(shù)成熟的系統(tǒng)，可覆蓋20 m³ 的測量體積，全新蔡司 T-TRACK 10 則適用于較小的測量體積，滿足更高的精度要求。

ZEISS T-SCAN

手持式三維激光掃描儀

ZEISS T-POINT

手持式接觸探針，用于單點(diǎn)測量新品

ZEISS T-TRACK 10

光學(xué)跟蹤，覆蓋10 m³ 測量體積

ZEISS T-TRACK 20

光學(xué)跟蹤，覆蓋20 m³ 測量體積

數(shù)據(jù)輕松捕捉手持式激光掃描儀ZEISS T-SCAN

T-SCAN 掃描儀可進(jìn)行快速，直觀的三維數(shù)據(jù)采集。手持式設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)，掃描輕松不費(fèi)力。測頭輕巧，結(jié)構(gòu)緊湊，尤其適用于可及性非常差的零件部位的數(shù)據(jù)采集。

多尺寸測量ZEISS T-TRACK 20

蔡司 T-TRACK 20 的測量體積可達(dá)20 m³。單次設(shè)置即可測量大至 4 m 的零件。上手容易，您可以準(zhǔn)確，快速地采集到三維數(shù)據(jù)。只需將零件放入其跟蹤體積范圍內(nèi)，即可進(jìn)行測量，無需準(zhǔn)備參考點(diǎn)。

可追溯的精度確保數(shù)據(jù)重復(fù)性和可靠性。

全新 T-TRACK 10 光學(xué)跟蹤系統(tǒng)的測量體積可達(dá)10 m³，與T-SCAN 10 結(jié)合，只需進(jìn)行一次設(shè)置，可以測量長達(dá) 2.5 m 的零件。配備高品質(zhì)的蔡司光學(xué)元件，尤其適用于對精度有高要求的工業(yè)應(yīng)用。

可追溯的精度確保數(shù)據(jù)重復(fù)性和可靠性。

快速單點(diǎn)測量ZEISS T-POINT

蔡司 T-POINT 接觸式探針是對物體標(biāo)準(zhǔn)幾何形狀，切邊區(qū)域，以及光測量手段難以進(jìn)入的死角區(qū)域進(jìn)行單點(diǎn)測量的理想解決方案。它可以快速，穩(wěn)定地采集到目標(biāo)位置的三維數(shù)據(jù)。該設(shè)備可以與傳統(tǒng)的測量探針一起使用，更換起來方便快捷。

擴(kuò)展您的測量體積ZEISS T-SCAN SMTs

通過使用T-SCAN SMT （球形標(biāo)靶），您可以進(jìn)一步擴(kuò)展測量體積，甚至結(jié)合多個蔡司T-SCAN 系統(tǒng)使用。當(dāng)被測零件尺寸過大，或者表面形狀阻礙激光投射時，您可以將這個方便的多位置跟蹤安裝到物體上，從而獲得精度一致的三維數(shù)據(jù)。

高過程可靠性GOM Inspect Suite

GOM Inspect Suite擁有成熟的三維計(jì)量體系標(biāo)準(zhǔn)。蔡司 T-SCAN 目前與 GOM Inspect Suite 多合一軟件解決方案實(shí)現(xiàn)同步結(jié)合。測量和檢驗(yàn)均可以在軟件中執(zhí)行，全參數(shù)化的工作流程確保所有過程步驟的可追溯性。此外軟件提供用戶操作指引，可輔助用戶進(jìn)行掃描和探測，從而簡化并加快工作流程。